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边界扫描测试技术及应用
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  • 书名 边界扫描测试技术及应用
  • 书号 978-7-118-10714-2
  • 作者 陈圣俭，牛春平，石海滨
  • 出版时间 2016年06月
  • 译者
  • 版次 1版1次
  • 开本 32
  • 装帧 平装
  • 出版基金
  • 页数 257
  • 字数 240
  • 中图分类 TM93
  • 丛书名
  • 定价

全书共分10章，主要内容有：边界扫描测试技术的发展过程及基本原理；边界扫描标准体系结构框图及边界扫描测试的总体概念；TAP控制器的组成和工作原理；指令寄存器和指令系统，以及测试数据寄存器的规定及使用；互连测试及诊断算法原理；混合电路边界扫描测试标准IEEE1149.4和模块测试及维护总线标准IEEE1149.5；对数字电路系统的边界扫描测试进行了实例剖析；依据混合电路边界扫描测试标准进行BIT设计的基本原理框架，并给出了分立元件参数在线测试的流程。

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